EFFECT OF ELECTRON RADIATION ON THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF THE p-n-STRUCTURES BASED ON NUCLEAR-DOPED SILICON
Abstract
The article studies the effect of electron radiation with energy of 4 MeV on the characteristics of high-voltage (4.5 kV) silicon diode p-n-structures based on nuclear-doped silicon. During the research the dose dependences of the correlations between the static and dynamic characteristics of the p-n structures were built, and the radiation damage coefficient of minority carrier lifetime Kτ was determined. Using the DLTS-spectroscopy method, the formation in the band-gap of basic n-Si of six energy levels of radiation defects affecting the characteristics of irradiated p-n-structures was determined.
About the Authors
F. P. Korshunov
Scientific-Practical Materials Research Centre of NAS of Belarus, Minsk
Belarus
Belarus
N. E. Zhdanovich
Scientific-Practical Materials Research Centre of NAS of Belarus, Minsk
Belarus
Belarus
V. A. Gurinovich
Scientific-Practical Materials Research Centre of NAS of Belarus, Minsk
Belarus
Belarus
S. V. Luksha
Scientific-Practical Materials Research Centre of NAS of Belarus, Minsk
Belarus
Belarus
References
1. Коршунов, Ф. П. Влияние электронного облучения на характеристики эпитаксиальных кремниевых p-n-структур / Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, П. М. Гурин // Вес. Нац. акад. навук Беларуси. Сер. фіз.-мат. навук. – 2007. – № 3. – С. 92–95.
2. Коршунов, Ф. П. Воздействие радиации на интегральные микросхемы / Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов. – Минск: Наука и техника, 1986.
3. Lox, B. Transient response of p-n-junction / B. Lox, S. T. Newstadter // J. Appl. Phys. – 1954. – Vol. 25. – P. 1148–1154.
4. Епифанов, Г. И. Физические основы микроэлектроники / Г. И. Епифанов. – М.: Сов. радио, 1971.
5. Гаман, В. И. Физика полупроводниковых приборов / В. И. Гаман. – Томск: Изд-во Том. ун-та, 1989.
6. Коршунов, Ф. П. Радиационные эффекты в полупроводниковых приборах / Ф. П. Коршунов, Г. В. Гатальский, Г. М. Иванов. – Минск: Наука и техника, 1978.
Review
Views: 449
Email this article 